原位透射电镜（简称 in-situ TEM）该项技术允许研究人员在实时观察和操控样品的条件下进行高分辨率成像和表征。并能够实现直接从原子层次观察样品在力、热、电、磁作用下以及在化学反应过程中研究材料的结构和行为，并直接观察相变、位错运动、晶体生长等动态过程。通过 in-situ TEM，研究人员可以更深入地了解材料的性能、相互作用和响应机制，一度成为材料研究最为热门的工具。

样品要求

注意：首次下单建议先联系国信中业技术老师，沟通拍摄要求后再下单
不同原位测试对样品需求要求不同，根据具体测试要求决定样品尺寸；
如样品不符合上机要求，我们平台可以提供制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等）；
一般来说，样品的厚度不超过100nm，可先拍SEM判定颗粒大小
请务必仔细检查您的样品，若发现以弱磁强磁充当非磁或者以强磁充当弱磁非磁，我们将可能无法安排您的实验，不承担以此造成的时间和样品损失；且须赔偿原订单金额的两倍费用！!若造成设备损坏，维修费用须由您全部承担；

原位加热

原位通电：