预存有礼
高分辨XRD (HRXRD)
仪器型号：
Bruker-D8 Discover，锐影-Xpert Pro MPD，理学-Smart Lab
预约次数：673次
服务周期：6个工作日
项目介绍高分辨XRD(HRXRD)从倒易空间出发更易于进行外延结构的X射线衍射分析。一般外延膜与衬底晶格常数相近，所以，在倒易空间，外延膜的衍射斑点在衬底的衍射斑点左右。由于HRXRD具有入射束单色化程度高、发散度小、分辨率高等优点，是表征外延结构的理想手段。广泛用于单晶质量、外延薄膜的厚度、组分、晶胞参数、缺陷、失配、弛豫、应力等结构参数的测试
样品要求
厚度小于3mm ，长宽1x1mm2以上，不同尺寸价格不同，长宽4x4mm2以上不需要加价
测量面平整，厚度测量要求薄膜与衬底电子密度有明显差别且粗糙度尽量小
结果展示
晶面的倒空间强度分布图（RSM）
常见问题-
❓
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技术顾问
赵工 15757137609
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