原子力显微镜（AFM）是一种高分辨成像技术，将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的相互作用力（如：范德华力、磁力、静电力等），通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。

样品要求：

1、粉末样品不少于20mg(需说明制样方法)

2、液体样品不少于1mL(液体制样后测试，无法直接测试液态或含液体的样品，也需说明制样方法)

3、块体及薄膜样品，长宽小于30mm，厚度不超过10mm(请务必标记好测试面)；块状样品需要固定好，避免在寄送过程产生晃动或摩擦影响测试结果！

4、特别注意：块体及薄膜样品需表面平整、起伏不超过5um

5、对厚度有要求的纳米片样品，或生物DNA类样品，请与您专属工程师具体沟通

6、如有其他疑问，请联系对接的技术顾问