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科研热点
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原子发射光谱法如何工作？原子发射光谱(AES)是一种分析技术，它分析样品发射的电磁辐射以识别和量化其中的不同物质。AES通常涉及从样品中产生等离子体。几种电感耦合等离子体(ICP)技术50 0 -
原子力显微镜(AFM)基础介绍和应用实例AFM技术如此特殊？AFM非常直观；你可以想象成一个蒙着眼睛的人用手指触摸表面，感受它们的硬度和表面形状。与其他复杂技术相比，AFM的解释和使用相对简单，尤其是46 0
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中国纳米技术：市场报告中国拥有14.09亿人口，是世界第二大人口大国。然而，人口老龄化、出生率下降和劳动力萎缩等人口结构变化预计将重塑该国的经济格局。到2035年，65岁以上的人预计49 0
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表征上转换纳米粒子：光谱、寿命和量子产率光子上转换(UC)是指两个或多个低能光子转换为高能光子。上转换纳米粒子(UCNP)是一种重要的上转换材料。UCNP是嵌入在基质中的由稀土元素（包括铒和镱）组成的55 0
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扫描透射电子显微镜 (STEM)利用扫描电子透射显微镜(STEM)可以实验性地获得微观样品的高分辨率图像。它是研究纳米技术发展中所用纳米材料复杂结构的有效方法。图片来源：JeffWhyte/S48 0
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影响扫描电镜SEM分辨率的因素影响扫描电镜（SEM）的几大要素分辨率影响扫描电镜的分辨本领的主要因素有：1分辨率A.入射电子束束斑直径：为扫描电镜分辨本领的极限。一般，热阴极电子枪的最小束斑38 0
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扫描电镜结构组成及45个知识点一种新型的电子光学仪器，被广泛地应用于化学、生物、医学、冶金、材料、半导体制造、微电路检查等各个研究领域和工业部门。如图1所示，是扫描电子显微镜的外观图。扫描电37 0
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透射电镜(TEM)、扫描电镜(SEM)测试常见问题20问1、做透射电镜TEM测试时样品的厚度是多少?透射电镜TEM的样品厚度小于100nm，太厚了电子束不易透过，分析效果不好。2、请问样品的的穿晶断裂和沿晶断裂在扫描39 0
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SEM样品要求SEM样品要求1）样品不含水分湿的样品会释放出水蒸气，往往真空度很难上去，而且水蒸气遇到高能电子束，会被电离，还会增加电子束能量分散，会使成像模糊分辨率降低；水40 0
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TOF-MS 简介从20世纪到21世纪，Kore人员可以说参与了飞行时间质谱法开发的方方面面。但我们为什么选择专注于飞行时间？当今的飞行时间质谱仪具有出色的灵敏度和高质量范围以及44 0
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荧光光谱的基本理论荧光是由光子激发分子，使其达到电子激发态后为回到基态而产生的发光。它是由单重态基态的光子吸收提升到单重态激发态而产生的。当被激发的分子返回基态时，会发射一个比被42 0
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关于AAS、AES、AFS的区别基本概念AAS(原子吸收光谱)：是基于气态的基态原子外层电子对紫外光和可见光的吸收为基础的分析方法。(基于物质所产生的原子蒸气对特征谱线(通常是待测元素的特征谱46 0